Yüksek performanslı LAMBDA 1050+, sistemi ihtiyaçlarınıza göre yapılandırma seçeneğiyle eşsiz esneklik sunar: dedektör seçiminden, piyasadaki diğer UV/Vis/NIR sistemlerine göre en pratik ve esnek numune alma yaklaşımını sağlayan aksesuarlara kadar.
Daha İyi Numune Kontrolü
LAMBDA 1050+, numunenizi kontrol altında tutan ve veri kalitesini güvenceye alan çok sayıda özellik ve aksesuarla tasarlanmıştır:
- Numuneyi rahatça yerleştirmek ve aksesuarları hızla takmak için sektörün en büyük numune bölmeleri
- Difüz ve speküler yansımayı ölçen geçmeli entegre küreler; 8° yansıma ve merkeze montaj özellikli, 100 ve 150 mm seçenekleri
- Otomatik, hassas ve tekrarlanabilir açı ayarı için çift Si ve InGaAs dedektörlü Evrensel Yansıma Aksesuarı (URA)
- Polarize veya depolarize ışığın PC üzerinden otomatik kontrolü için Pol/Depol tahrik ünitesi
- Yüksek absorbanslı ölçümler için %1'den %0,1'e kadar cihaz kontrollü dahili zayıflatma
Daha Akıllı Esneklik
LAMBDA 1050+'ın akıllı modüler tasarımı ve geçmeli aksesuarları, cihazı çok çeşitli ihtiyaç ve yapılandırmalara göre kurmanızı sağlar:
- Çift numune bölmesi – İki büyük numune bölmesiyle iki kat esneklik: birini standart yansıma veya geçirgenlik testleri, diğerini özelleştirilebilir özel uygulamalar için kullanın
- Evrensel Yansıma Aksesuarı – Standart dedektörü çıkarıp bu yenilikçi aksesuarı takarak numune açılarını otomatik ölçün
- Toplam Mutlak Ölçüm Sistemi (TAMS) – Speküler ve difüz geçirgenlik ile yansıma ölçümünde en yüksek esneklik ve doğruluk; yükseltilebilir dedektör yapılandırması
- Genel Amaçlı Optik Tezgâh (GPOB) – Lens, ışın bölücü ve optik gibi büyük numuneler için
Daha Yüksek Verimlilik
- Daha hızlı sonuç – Yüksek hassasiyeti sayesinde veri kalitesinden ödün vermeden her zamankinden hızlı tarama: önceki sürümlere göre basit taramada 2,25 kata, tam taramada %40'a kadar daha hızlı
- Daha yüksek hassasiyet – Daha iyi sinyal sağlayan çift aynalarla numunelerin doğru karakterizasyonu
- Daha kısa hazırlık süresi – Sektörün en kısa cihaz ve numune kurulum süresiyle LAMBDA 1050+ her zamankinden hızlıdır. Tüm LAMBDA spektrofotometreleri için standart validasyon kiti de sunulur.
Yazılım
Kullanım kolaylığı ve en zorlu analizleri karşılayacak güç için tasarlanan UV WinLab yazılımıyla LAMBDA 1050+'ın tüm potansiyelini kullanın. Enhanced Security™ (ES) UV WinLab yazılımı, ABD FDA 21 CFR Part 11 uyumu gerektiren regüle ortamlardaki ilaç, üretim, endüstri, gıda ve akademik laboratuvarlar için tasarlanmıştır.
Yapılandırmalar
| Parça No | Yapılandırma | Dedektör | Dalga Boyu Aralığı* |
|---|
| L6020055 | LAMBDA 1050+, 2 dedektörlü modül | Standart dedektör | 175 – 3300 nm |
| L6020087 | LAMBDA 1050+, 3 dedektörlü modül (WB) | Standart dedektör | 175 – 3300 nm (gelişmiş InGaAs dedektör 900 – 2500 nm) |
| L6020086 | LAMBDA 1050+, 3 dedektörlü modül (NB) | Standart dedektör | 175 – 3300 nm (gelişmiş InGaAs dedektör 900 – 1800 nm) |
| L6020114 | LAMBDA 1050+, 150 mm InGaAs entegre küre | Entegre küre | 190 – 2500 nm |
| L6020157 | LAMBDA 1050+, 100 mm InGaAs entegre küre | Entegre küre | 190 – 2500 nm |
| L6020159 | LAMBDA 1050+, 150 mm PbS entegre küre | Entegre küre | 190 – 2500 nm |
| L6020156 | LAMBDA 1050+, 100 mm PbS entegre küre | Entegre küre | 190 – 2500 nm |
| L6020179 | LAMBDA 1050+, UV/Vis/NIR URA | Evrensel Yansıma Aksesuarı | 185 – 3100 nm† |
| L6020180 | LAMBDA 1050+, TAMS ve gelişmiş silisyum doğrudan dedektör | Toplam Mutlak Ölçüm Sistemi | 190 – 1150 nm |
| L6020182 | LAMBDA 1050+, TAMS ve silisyum/InGaAs entegre küre dedektörü | Toplam Mutlak Ölçüm Sistemi | 200 – 2600 nm |
| L6020183 | LAMBDA 1050+, TAMS ve gelişmiş silisyum/InGaAs entegre küre dedektörü | Toplam Mutlak Ölçüm Sistemi | 200 – 2500 nm |
| L6020184 | LAMBDA 1050+, TAMS ve gelişmiş silisyum/InGaAs doğrudan dedektör | Toplam Mutlak Ölçüm Sistemi | 200 – 2500 nm |
* 190 nm altındaki ölçümler cihazın azotla temizlenmesini (purge) gerektirir
† Polarizör veya depolarizör kullanıldığında URA'nın dalga boyu aralığı daralabilir